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配置IR专用物镜,可用于透过硅材料成像,进行半导体检查和测量奥林巴斯BX/MX系列红外显微镜配备的5X到100X红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜,配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样